xrd(xrd圖譜怎么分析)

XRD是什么

1、XRD 即X-ray diffraction 的縮寫，X射線衍射，通過對材料進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。

2、X射線是一種波長很短(約為20～0.06埃)的電磁波，能穿透一定厚度的物質(zhì)，并能使熒光物質(zhì)發(fā)光、照相乳膠感光、氣體電離。在用電子束轟擊金屬“靶”產(chǎn)生的X射線中,包含與靶中各種元素對應(yīng)的具有特定波長的X射線，稱為特征（或標(biāo)識）X射線。

3、XRD的基本原理：X射線是原子內(nèi)層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。

擴展資料：

1、晶態(tài)物質(zhì)對X射線產(chǎn)生的相干散射表現(xiàn)為衍射現(xiàn)象，即入射光束出射時光束沒有被發(fā)散但方向被改變了而其波長保持不變的現(xiàn)象，這是晶態(tài)物質(zhì)特有的現(xiàn)象。絕大多數(shù)固態(tài)物質(zhì)都是晶態(tài)或微晶態(tài)或準(zhǔn)晶態(tài)物質(zhì)，都能產(chǎn)生X射線衍射。

2、晶體微觀結(jié)構(gòu)的特征是具有周期性的長程的有序結(jié)構(gòu)。晶體的X射線衍射圖是晶體微觀結(jié)構(gòu)立體場景的一種物理變換，包含了晶體結(jié)構(gòu)的全部信息。用少量固體粉末或小塊樣品便可得到其X射線衍射圖。

3、因此，通過樣品的X射線衍射圖與已知的晶態(tài)物質(zhì)的X射線衍射譜圖的對比分析便可以完成樣品物相組成和結(jié)構(gòu)的定性鑒定；通過對樣品衍射強度數(shù)據(jù)的分析計算，可以完成樣品物相組成的定量分析。

參考資料來源：

百度百科-xrd

XRD是測什么用的

XRD可以測的是：

1、結(jié)晶度的測定

結(jié)晶度定義為結(jié)晶部分重量與總的試樣重量之比的百分?jǐn)?shù)。非晶態(tài)合金應(yīng)用非常廣泛，如軟磁材料等，而結(jié)晶度直接影響材料的性能，因此結(jié)晶度的測定就顯得尤為重要了。測定結(jié)晶度的方法很多，但不論哪種方法都是根據(jù)結(jié)晶相的衍射圖譜面積與非晶相圖譜面積決定。

2、精密測定點陣參數(shù)

精密測定點陣參數(shù) 常用于相圖的固態(tài)溶解度曲線的測定。溶解度的變化往往引起點陣常數(shù)的變化；當(dāng)達(dá)到溶解限后，溶質(zhì)的繼續(xù)增加引起新相的析出，不再引起點陣常數(shù)的變化。

這個轉(zhuǎn)折點即為溶解限。另外點陣常數(shù)的精密測定可得到單位晶胞原子數(shù)，從而確定固溶體類型；還可以計算出密度、膨脹系數(shù)等有用的物理常數(shù)。

擴展資料：

自1912年勞厄等發(fā)現(xiàn)硫酸銅晶體的衍射現(xiàn)象的100年間，X射線XRD這一重要探測手段在人們認(rèn)識自然、探索自然方面，特別在凝聚態(tài)物理、材料科學(xué)、生命醫(yī)學(xué)、化學(xué)化工、地學(xué)、礦物學(xué)、環(huán)境科學(xué)、考古學(xué)、歷史學(xué)等眾多領(lǐng)域發(fā)揮了積極作用。

新的領(lǐng)域不斷開拓、新的方法層出不窮，特別是同步輻射光源和自由電子激光的興起，X射線衍射研究方法仍在不斷拓展。如超快X射線衍射、軟X射線顯微術(shù)、X射線吸收結(jié)構(gòu)、共振非彈性X射線衍射、同步輻射X射線層析顯微技術(shù)等。

參考資料來源：百度百科—xrd

xrd的工作原理

XRD的基本原理：X射線是原子內(nèi)層電子在高速運動電子的轟擊下躍遷而產(chǎn)生的光輻射，主要有連續(xù)X射線和特征X射線兩種。

XRD即X-ray diffraction的縮寫，X射線衍射，通過對材料進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。

xrd的應(yīng)用

1、對晶體結(jié)構(gòu)不完整性的研究

包括對層錯、位錯、原子靜態(tài)或動態(tài)地偏離平衡位置，短程有序，原子偏聚等方面的研究。

2、結(jié)構(gòu)分析

對新發(fā)現(xiàn)的合金相進(jìn)行測定，確定點陣類型、點陣參數(shù)、對稱性、原子位置等晶體學(xué)數(shù)據(jù)。

3、液態(tài)金屬和非晶態(tài)金屬

研究非晶態(tài)、液態(tài)金屬結(jié)構(gòu)，如測定近程序參量、配位數(shù)等。

4、合金相變

包括脫溶、有序無序轉(zhuǎn)變、母相新相的晶體學(xué)關(guān)系等。

EDS及XRD的性能區(qū)別

1、EDS是針對一些元素的含量進(jìn)行測試，XRD是測試晶體結(jié)構(gòu)的。
2、EDS
(Energy
Dispersive
Spectrometer）能譜分析，能譜儀是與掃描電子顯微鏡或透射電鏡相連的設(shè)備。在微米或納米尺度上對掃描電鏡或透射電鏡內(nèi)通過電子碰撞所產(chǎn)生的X射線的能量進(jìn)行測量來確定物質(zhì)化學(xué)成分。分析范圍：4-100號元素定性定量分析。
特點：
（1）能快速、同時對各種試樣的微區(qū)內(nèi)Be-U的所有元素，元素定性、定量分析，幾分鐘即可完成。
（2）對試樣與探測器的幾何位置要求低：對W.D的要求不是很嚴(yán)格；可以在低倍率下獲得X射線掃描、面分布結(jié)果。
（3）能譜所需探針電流小：對電子束照射后易損傷的試樣，例如生物試樣、快離子導(dǎo)體試樣、玻璃等損傷小。
（4）檢測限一般為0.1%－0.5%，中等原子序數(shù)的無重疊峰主元素的定量相誤差約為2%。
3、XRD，X射線衍射是測定晶體結(jié)構(gòu)的。X射線衍射，通過對材料進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，分析材料的成分等。

XRD的原理是什么

XRD的測試原理,是Bragg方程,即nλ=2*d*sinθ,其中λ為入射線波長,d為晶面間距,θ為衍射角.換言之,XRD對于晶體結(jié)構(gòu)的測試才是有效的.因為晶體都會存在其特有的結(jié)晶學(xué)特征,也就是空間點陣,14種Bravais格子代表了其晶格類型,晶面參數(shù)又限定了其結(jié)點間的相對數(shù)量關(guān)系.于是,參考Bragg方程,讓X射線通過晶體,只要滿足Bragg衍射條件,便能提供晶體內(nèi)原子排布的信息.所以,不管是采用德拜照相法、衍射儀法等,都會在θ角觀測到衍射.當(dāng)然,也可以說XRD的基礎(chǔ)是Laue衍射條件,但其實它和Bragg衍射條件本質(zhì)是一致的,只是表達(dá)不同.
以上為個人總結(jié),并非網(wǎng)上復(fù)制,

xrd圖譜怎么分析

xrd 圖譜應(yīng)從以下幾點來分析：

1、衍射圖譜分析：通過材料分析。

首先在進(jìn)行 xrd 圖譜分析時，可通過材料進(jìn)行 xrd，然后分析它的一個衍射圖譜，從而獲取到里面的一個成分問題，材料內(nèi)部的院子和分子結(jié)構(gòu)以及形態(tài)也是可以通過 xrd 圖譜的衍射圖譜來分析出來的。

2、電子密度分析：密度強弱和角度分析。

電子密度分析需要測量衍射光束的強度和角度，通過可以產(chǎn)生經(jīng)體內(nèi)的電子密度的三維圖像以及電子的密度，就可以確定出晶體中原子的平均位置，這樣就能夠找到其化學(xué)鍵以及其他的有用信息了。

3、高峰分析：高峰 AB 峰分析。

針對于高峰分析，需要 xrd 圖譜的內(nèi)容，A 峰比 B 峰高很多的時候，可以通過兩峰之間的高度比 A/C 來確定一個相對標(biāo)準(zhǔn)粉末的衍生圖對應(yīng)的峰，這樣能夠通過分析得到一個程序控制下溫度物質(zhì)質(zhì)量以及溫度關(guān)系之間的一個曲線。

4、面積分析：面積大小含量多少分析。

通過 xrd 圖譜的面積，能夠看到相關(guān)的晶體含量。面積越大，晶體含量就越多。在 xrd 圖譜中，相對背地強度越高，晶體含量就越高，這與面積表示晶體含量是同一種分析方法。