三坐標有哪些品牌?
有下面這些品牌:
1.現在在世界上排名第一的當仁不讓是：德國蔡司而且其系統和測頭都是自己生產的，光柵尺為玻璃光柵更具有穩定性，當然了價格也是較高的。
2.二流的三坐標廠家有 海克斯康 意大利科德三 西安愛德華等 這些都是分辨力能夠達到μ級的，其中海克斯康算是一個較大的集團公司，不過該公司原來的售后不錯，現在姿態較高，售后服務也略微下降；科德三幾經波折又回到了國內市場，這個公司的售后及銷售還是很有能力的，價格不貴。
3.其他的公司有日本的三豐等，精度較低。
國產與進口的三坐標測量機分別精確到什么程度?
三坐標的精度目前也就達到微米級。國產也有精度高的，就是重復測量精度比進口一些牌子的機子差。一般三坐標的氣浮間距為4~12微米，一些進口的牌子可以達到4微米，國產的機子不行，國產的機精度能達到5~10微米很不錯了，好多國產的都有8微米以上的誤差。還有三坐標不一定精度高就好用，還要看軟體是什么、支持哪些功能、合不合你們用等。
三坐標有哪些品牌?
1、德國 leitz zeiss
2、DEA sheffield brownsharp 日本三豐，東京精密。
3、韓國德仁，德國溫澤，意大利coord 3等。
4、國產的，思瑞，愛德華，壹興佰，佛迪，智泰等。
三坐標測量機都有哪些廠家？配置什么樣的測頭？各測頭的功能
三坐標國內生產廠家：西安愛德華、青島海克斯康、北京303所、智泰集團等等；
三坐標國外生產廠家：德國蔡司、日本三豐、美國法如、瑞士tesa等等；
目前國內外三坐標測量機絕大多數使用的是雷尼紹測頭，可分為一下幾種：
1、手動測座 一系列固定的及手動可轉位測座，用于連接觸發式測頭和機器軸套，可靈活地對復雜部件進行檢測。
MH20i：適用于TP20測針模塊的可重復定位測座；
MH20：適用于TP20測針模塊的定位測座；
MH8：適用于M8螺紋固定測頭的可重復定位測座；
MIH(S)：具有內置LCD位置顯示器的可重復定位測座；
PH1：具有偏置測頭底座的定位測座；
PH5/1：具有五個測頭插槽和B軸轉位的固定式測座；
PH5：具有五個測頭插槽的固定式測座；
PH6：具有一個測頭插槽的固定式測座；
PH6M：具有自動鉸接的固定式測座。
2、機動和自動測座 機動可重復定位測座可將測頭放置在720個位置中的一個，所以可以在多個角度下進行測量。測座的這種重復性使這些位置可以重新調用，無需重新標定，節省了操作時間，并能夠在最合適的角度上使用測頭，達到最精確的結果。
PH10機動可重復定位測座：可重復定位測座系列（PH10M、PH10MQ和PH10T）有軸套式安裝和測頭式安裝兩種選項
3、伺服測座 機動伺服測座提供無限制的角度位置，適合水平測量臂坐標測量機。
4、觸發式測頭 觸發式測頭測量離散的點，是檢測三維幾何工件的理想選擇。 Renishaw提供品種齊全、具有理想性價比的系統，既可在手動坐標測量機上進行簡單的性能檢測，也可在數控高速機器上進行復雜輪廓測量。
TP20測頭：具有模塊交換功能的緊湊型機械式測頭；
TP200測頭：具有模塊交換功能的緊湊型應變片式測頭；
TP6(A)測頭：具有M8和自動鉸接固定選項的堅固機械式測頭；
TP7M測頭：具有自動鉸接的應變片式測頭；
OTP6M測頭：用于檢測軟材料的光學觸發式測頭；
TP2/TP1S(M)測頭：傳統觸發式測頭。
5、掃描測頭 掃描測頭是微型測量儀器，每秒能夠采集幾百個表面點，可以測量形狀、尺寸和位置。掃描測頭也可用于采集離散點，與觸發式測頭類似。Renishaw提供了一系列解決方案，供各種尺寸和配置的坐標測量機選用。
SP25M測頭：具有掃描和觸發式模塊的25 mm直徑掃描測頭；
SP600測頭：高性能檢測、數字化和輪廓掃描；
SP80測頭：軸套安裝式掃描測頭，用長測針提供一流的性能。
掃描原理 掃描測量提供了從規則型面工件或其他復雜工件上高速采集形狀和輪廓數據的方法。
觸發式測頭可采集表面離散點，而掃描系統則可獲取大量的表面數據，提供更詳細的工件形狀信息。因此，在實際應用中如果工件形狀是整個誤差預算的重要考量因素或必須對復雜表面進行檢測，掃描測量可謂理想之選。掃描需要根本不同的傳感器設計、機器控制和數據分析方法。Renishaw掃描測頭獨具特色的輕巧無源機構（無馬達或鎖定機構），具有高固有頻率，適合高速掃描測量。分離的光學測量系統直接（無需通過測頭機構中的疊加軸）測量測針的變形量，以獲得更高的精度和更快的動態響應。
掃描系統如何采集并分析表面數據？
掃描測頭提供連續的偏移量輸出，與機器位置相結合，從而獲得表面位置數據。進行掃描測量時，測頭測尖開始與工件接觸，然后沿工件表面移動，采集測量數據。在整個測量過程中，須將測頭測針的偏移量保持在測頭的測量范圍內。要想取得最佳測量結果，需要傳感器與機器控制緊密集成，以及先進的濾波運算，以將合成數據轉換為可用的表面信息。掃描驅動算法適用于工件輪廓測量，改變掃描速度使之匹配曲率的變化（表面越平，速度越快），然后調整數據采集速率（表面變化越快，采集的數據越多）。
