干法刻蝕是用等離子體化學活性較強的性質進行薄膜刻蝕的技術。干法蝕刻可以通過離子轟擊物理性地移除襯底表面的材料,或者通過化學反應將襯底材料轉換為不穩(wěn)定的產物通過氣泵抽走。
中文名干法刻蝕
外文名Dry?etching
用 途集成電路制造
簡介當氣體以等離子體形式存在時,它具備兩個特點:一方面等離子體中的這些氣體化學活性比常態(tài)下時要強很多,根據被刻蝕材料的不同,選擇合適的氣體,就可以更快地與材料進行反應,實現刻蝕去除的目的;另一方面,還可以利用電場對等離子體進行引導和加速,使其具備一定能量,當其轟擊被刻蝕物的表面時,會將被刻蝕物材料的原子擊出,從而達到利用物理上的能量轉移來實現刻蝕的目的。因此,干法刻蝕是晶圓片表面物理和化學兩種過程平衡的結果。
分類根據使用離子的刻蝕機理,干法刻蝕分為三種:物理性刻蝕、化學性刻蝕、物理化學性刻蝕。其中物理性刻蝕又稱為濺射刻蝕,方向性很強,可以做到各向異性刻蝕,但不能進行選擇性刻蝕?;瘜W性刻蝕利用等離子體中的化學活性原子團與被刻蝕材料發(fā)生化學反應,從而實現刻蝕目的。由于刻蝕的核心還是化學反應,因此刻蝕的效果和濕法刻蝕有些相近,具有較好的選擇性,但各向異性較差。[1]
人們對這兩種極端過程進行折中,得到廣泛應用的一些物理化學性刻蝕技術。例如反應離子刻蝕(RIE)和高密度等離子體刻蝕(HDP)。這些工藝通過活性離子對襯底的物理轟擊和化學反應雙重作用刻蝕,同時兼有各向異性和選擇性好的優(yōu)點。RIE已成為超大規(guī)模集成電路制造工藝中應用最廣泛的主流刻蝕技術。
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